- PI-/DAR-metingen met TrendIt™-grafieken
- Geheugenopslag via de Fluke Connect Measurements-app
- Temperatuurcompensatie via de Fluke Connect Measurements-app
- Laagdoorlaatfilter voor frequentiegeregelde aandrijvingen, voor nauwkeurige metingen aan motoraandrijvingen
- Isolatietestspanningen: 50 V, 100 V, 250 V, 500 V, 1000 V
- Isolatietest: 0,01 MΩ tot 2,0 GΩ
- Automatische ontlading van capacitieve spanningen
- Afgevlakte aflezing van isolatietestwaarden
- Frequentie, Capaciteit, Diodetest, Temperatuur, Min/Max, AC-/DC-spanning, DC in millivolt, AC/DC in milliampère, Weerstand (0,1 Ω tot 50 MΩ), Doorgang
- Drie jaar garantie
- Externe probe, testdraden, krokodillenklemmen
- Thermokoppel type K
- Robuuste draagkoffer
- Automatische uitschakeling
| Elektrische specificaties |
| Wisselspanningsmeting |
| Bereik |
| 600,0 mV |
Resolutie |
0,1 mV |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 5000 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(2% + 3) |
| 6,000 V |
Resolutie |
0,001 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 5000 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(2% + 3) |
| 60,00 V |
Resolutie |
0,01 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 5000 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(2% + 3) |
| 600,0 V |
Resolutie |
0,1 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 5000 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
± (2% + 3)¹ |
| 1000 V |
Resolutie |
1 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(2% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 5000 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
± (2% + 3)¹ |
| ¹ 1 kHz bandbreedte |
| Spanning laagdoorlaatfilter |
| Bereik |
| 600,0 mV |
Resolutie |
0,1 mV |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 400 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
+ (2% + 3), - (6 % + 3) |
| 6,000 V |
Resolutie |
0,001 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 400 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
+ (2% + 3), - (6 % + 3) |
| 60,00 V |
Resolutie |
0,01 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 400 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
+ (2% + 3), - (6 % + 3) |
| 600,0 V |
Resolutie |
0,1 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(1% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 400 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
+ (2% + 3), - (6 % + 3) |
| 1000 V |
Resolutie |
1 V |
| Nauwkeurigheid 50 Hz tot 60 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
±(2% + 3) |
| Nauwkeurigheid 60 Hz tot 400 Hz ± (% van uitlezing + counts) |
+ (2% + 3), - (6 % + 3) |
| DC-spanningsmeting |
| Bereik |
Resolutie |
Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
| 6,000 V DC |
0,001 V |
±(0,09% + 2) |
| 60,00 V DC |
0,01 V |
±(0,09% + 2) |
| 600,0 V DC |
0,1 V |
±(0,09% + 2) |
| 1000 V DC |
1 V |
±(0,09% + 2) |
| Ingangsimpedantie |
10 MΩ (nominaal), < 100 pF |
| Normal mode-onderdrukkingsratio |
>60 dB bij 50 Hz of 60 Hz |
| Common mode-onderdrukkingsratio |
> 120 dB bij dc, 50 Hz of 60 Hz (1 k ongebalanceerd) |
| Nauwkeurigheid geldt voor ± 100% van bereik |
| DC-meting in millivolt |
| Bereik |
Resolutie |
Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
| 600,0 mVdc |
0,1 mV |
±(0,1% + 1) |
| DC- en AC-stroommeting |
| AC 45 Hz tot 1000 Hz |
| Bereik |
400 mA |
| Resolutie |
0,1 mA |
| Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
± (1,5% + 2)¹ |
| Belastingsspanning (typisch) |
2 mV/mA |
| Bereik |
60 mA |
| Resolutie |
0,01 mA |
| Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
± (1,5% + 2)¹ |
| Belastingsspanning (typisch) |
2 mV/mA |
| DC |
| Bereik |
400 mA |
| Resolutie |
0,1 mA |
| Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
±(0,2% + 2) |
| Belastingsspanning (typisch) |
2 mV/mA |
| Bereik |
60 mA |
| Resolutie |
0,01 mA |
| Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
±(0,2% + 2) |
| Belastingsspanning (typisch) |
2 mV/mA |
| Overbelasting |
600 mA gedurende maximaal 2 minuten |
| Zekeringsbescherming voor mA-ingang |
0,44 mA, 1000 V, IR 10 kA |
| AC-conversie |
Ingangswaarden zijn ac-gekoppeld en gekalibreerd aan de rms-waarde van een sinusgolfingang |
| Omvormingen leveren True-RMS-meetwaarden op en zijn gespecificeerd van 5% tot 100% van het bereik. Crestfactor van het ingangssignaal kan maximaal 3 bedragen bij maximaal 300 mA, met lineaire afname tot crestfactor ≤ 1,5 bij 600 mA. Voor niet-sinusvormige golven voegt u normaal +(2% van de uitlezing + 2% van de volle schaal) toe voor een crestfactor van maximaal 3. |
| ¹ 1 kHz bandbreedte |
| Ohm-meting |
| Bereik |
Resolutie |
Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts)¹ |
| 600,0 Ω |
0,1 Ω |
±(0,9% + 2) |
| 6,000 kΩ |
0,001 kΩ |
±(0,9% + 2) |
| 60,00 kΩ |
0,01 kΩ |
±(0,9% + 2) |
| 600,0 kΩ |
0,1 KΩ |
±(0,9% + 2) |
| 6,000 MΩ |
0,001 MΩ |
±(0,9% + 2) |
| 50,0 MΩ ² |
0,01 MΩ |
±(1,5% + 3) |
| Overbelastingsbeveiliging |
1000 V RMS of DC |
| Nullasttestspanning |
< 8,0 V DC |
| Kortsluitstroom |
< 1,1 mA |
¹ Nauwkeurigheden zijn van toepassing van 0% tot 100% van het bereik
² Tot 80% relatieve vochtigheid |
| Diodetest |
| Indicatie diodetest |
Spanningsval display: 0,6 V bij 1,0 mA nominale testspanning: |
| Nauwkeurigheid |
±(2% + 3) |
| Doorgangstest |
| Indicatie continuïteit |
Continue pieptoon voor testweerstand onder 25 Ω en geen pieptoon boven 100 Ω. Maximale aflezing: 1000 Ω |
| Nullastspanning |
< 8,0 V |
| Kortsluitstroom |
1,0 mA typisch |
| Overbelastingsbeveiliging |
1000 V RMS |
| Responstijd |
> 1 m sec |
| Frequentiemeting |
| Bereik |
Resolutie |
Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
| 99,99 Hz |
0,01 Hz |
±(0,1% + 1) |
| 999,9 Hz |
0,1 Hz |
±(0,1% + 1) |
| 9,999 kHz |
0,001 kHz |
±(0,1% + 1) |
| 99,99 kHz |
0,01 kHz |
±(0,1% + 1) |
| Gevoeligheid van frequentieteller |
| 600,0 mV AC |
Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 5 Hz tot 20 kHz |
100,0 mV |
| Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 20 kHz tot 100 kHz |
150,0 mV |
| DC-triggerniveaus¹ tot 20 kHz² |
n.v.t. |
| 6,0 V |
Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 5 Hz tot 20 kHz |
1,0 V |
| Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 20 kHz tot 100 kHz |
1,5 V |
| DC-triggerniveaus¹ tot 20 kHz² |
-400,0 mV en 2,5 V |
| 60,0 V |
Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 5 Hz tot 20 kHz |
10,0 V |
| Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 20 kHz tot 100 kHz |
36,0 V |
| DC-triggerniveaus¹ tot 20 kHz² |
1,2 V en 4,0 V |
| 600,0 V |
Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 5 Hz tot 20 kHz |
100,0 V |
| Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 20 kHz tot 100 kHz |
- |
| DC-triggerniveaus¹ tot 20 kHz² |
12,0 V en 40,0 V |
| 1000,0 V |
Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 5 Hz tot 20 kHz |
300,0 V |
| Gevoeligheid V ac (RMS sinusgolf)¹ 20 kHz tot 100 kHz |
- |
| DC-triggerniveaus¹ tot 20 kHz² |
12,0 V en 40,0 V |
¹ Maximale ingang voor gespecificeerde nauwkeurigheid = 10x bereik (maximaal 1000 V). Ruis bij lage frequenties en versterkingen kan de nauwkeurigheid beïnvloeden
² Bruikbaar tot 100 kHz met volle schaal-ingang |
| Capaciteit |
| Bereik |
Resolutie |
Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts) |
| 1000 nF |
1 nF |
±(1,2% + 2) |
| 10,00 μF |
0,01 μF |
±(1,2% + 2) |
| 100,0 μF |
0,1 μF |
± (1,2% ± 90 counts) |
| 9999 μF |
1 μF |
± (1,2% ± 90 counts) |
| Temperatuurmeting |
| Bereik |
Resolutie |
Nauwkeurigheid ± (% van uitlezing + counts)¹ |
| -40 °C tot 537 °C |
0,1 °C |
± (1% + 10 counts) |
| -40 °F tot 998 °F |
0,1 °F |
± (1% + 18 counts) |
| ¹ Nauwkeurigheid geldt na 90 minuten insteltijd na een wijziging in de omgevingstemperatuur van het instrument |
| Isolatiespecificaties |
| Meetbereik |
0,01 MΩ tot 2 GΩ |
| Testspanningen |
50, 100, 250, 500, 1000 V |
| Nauwkeurigheid van testspanningen |
+ 20%, - 0% |
| Kortsluitteststroom |
1 mA nominaal |
| Automatische ontlading |
Ontladingstijd < 0,5 seconde voor C = 1 µF of minder |
| Detectie van onder stroom staand circuit |
Voorkomt testen als aansluitspanning > 30 V is voorafgaand aan het testen |
| Maximale capacitieve belasting |
Geschikt voor gebruik tot een belasting van maximaal 1 µF |
| Uitgangsspanning |
| 50 V (0% tot +20%) |
Displaybereik |
0,01 tot 6,00 MΩ |
| Resolutie |
0,01 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 50 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (3% + 5 counts) |
| Displaybereik |
6,0 tot 50,0 MΩ |
| Resolutie |
0,1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 50 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (3% + 5 counts) |
| 100 V (0% tot +20%) |
Displaybereik |
0,01 tot 6,00 MΩ |
| Resolutie |
0,01 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 100 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (3% + 5 counts) |
| Displaybereik |
6,0 tot 60,0 MΩ |
| Resolutie |
0,1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 100 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (3% + 5 counts) |
| Displaybereik |
60 tot 100 MΩ |
| Resolutie |
1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 100 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (3% + 5 counts) |
| 250 V (0% tot +20%) |
Displaybereik |
0,1 tot 60,0 MΩ |
| Resolutie |
0,1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 250 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (1,5% + 5 counts) |
| Displaybereik |
60 tot 250 MΩ |
| Resolutie |
1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 250 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (1,5% + 5 counts) |
| 500 V (0% tot +20%) |
Displaybereik |
0,1 tot 60,0 MΩ |
| Resolutie |
0,1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 500 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (1,5% + 5 counts) |
| Displaybereik |
60 tot 500 MΩ |
| Resolutie |
1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 500 kΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (1,5% + 5 counts) |
| 1000 V (0% tot +20%) |
Displaybereik |
0,1 tot 60,0 MΩ |
| Resolutie |
0,1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 1 MΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (1,5% + 5 counts) |
| Displaybereik |
60 tot 600 MΩ |
| Resolutie |
1 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 1 MΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (1,5% + 5 counts) |
| Displaybereik |
0,6 tot 2,0 GΩ |
| Resolutie |
100 MΩ |
| Teststroom |
1 mA bij 1 MΩ |
| Nauwkeurigheid van weerstand ± (% van aflezing + counts) |
± (10% + 3 counts) |
| Algemene specificaties |
| Maximale spanning op elke aansluiting en algemeen |
1000 V |
| Opslagtemperatuur |
-40 °C tot 60 °C (-40 °F tot 140 °F) |
| Bedrijfstemperatuur |
-20 °C tot 55 °C (-4 °F tot 131 °F) |
| Temperatuurcoëfficiënt |
0,05 x (aangegeven nauwkeurigheid) per °C voor temperaturen < 18 °C of > 28 °C (< 64 °F of > 82 °F) |
| Relatieve vochtigheid |
Niet-condenserend |
| 0% tot 95% bij 10 °C tot 30 °C (50 °F tot 86 °F) |
| 0% tot 75% bij 30 °C tot 40 °C (86 °F tot 104 °F) |
| 0% tot 40% bij 40 °C tot 55 °C (104 °F tot 131 °F) |
| Trillingsmeting |
Storingsruis, 2 g, 5-500 Hz conform MIL-PRF-28800F, instrument van klasse 2 |
| Radiofrequentie-communicatie |
2,4 GHz ISM-band |
| Radiofrequentie-certificering |
FCC: T68-FBLE, IC: 6627A-FBLE |
| Elektromagnetische compatibiliteit |
| Internationaal |
IEC 61326-1: Elektromagnetische omgeving, draagbare apparatuur; IEC 61326-2-2 CISPR 11: groep 1, klasse A |
| Groep 1: de apparatuur heeft bewust gegenereerde en/of gebruikt geleidend gekoppelde hoogfrequente energie die nodig is voor het interne functioneren van de apparatuur zelf. |
| Klasse A: de apparatuur is geschikt voor gebruik in alle gebouwen behalve woningen en gebouwen die direct zijn aangesloten op een laagspanningsvoedingsnet voor gebouwen voor woondoeleinden. Er kunnen mogelijk problemen ontstaan met het garanderen van de elektromagnetische compatibiliteit in andere omgevingen, vanwege geleide en uitgestraalde storingen. |
| Als de apparatuur wordt aangesloten op een te testen object, kunnen er emissies optreden die groter zijn dan de door CISPR 11 vastgelegde niveaus. De apparatuur voldoet mogelijk niet aan de eisen ten aanzien van de ongevoeligheid voor storingen van deze norm wanneer meetsnoeren en/of meetprobes zijn aangesloten. |
| Korea (KCC) |
Apparatuur van klasse A (industriële zend- en communicatieapparatuur) |
| Klasse A: de apparatuur voldoet aan de vereisten voor industriële elektromagnetische stralingsapparatuur, en de verkoper en gebruiker dienen hiermee rekening te houden. Deze apparatuur is bedoeld voor gebruik in zakelijke omgevingen en is niet bestemd voor thuisgebruik. |
| VS (FCC) |
47 CFR 15 subdeel B. Dit product wordt als vrijgesteld apparaat beschouwd volgens clausule 15.103. |
| Veiligheidsklasse van behuizing |
IEC 60529: IP40 (buiten gebruik) |
| Veiligheid |
| IEC 61010-1 |
Vervuilingsgraad 2 |
| IEC 61010-2-033 |
CAT IV 600 V/CAT III 1000 V |
| Batterijen |
Vier AA-batterijen (NEDA 15A of IEC LR6) |
| Gebruiksduur batterij |
Gebruik meter 1000 uur; gebruik isolatietest: meter kan bij kamertemperatuur minstens 1000 isolatietests uitvoeren met nieuwe alkalinebatterijen. Dit zijn standaardtests van 1000 V tot meer dan 1 MΩ met een duty cycle van 5 seconden aan en 25 seconden uit. |
| Afmetingen (H x B x L) |
5,0 x 10,0 x 20,3 cm (1,97 x 3,94 x 8,00 in) |
| Gewicht |
550 g (1,2 lb) |
| Hoogte |
Bedrijf |
2000 m |
| Opslag |
12.000 m |
| Mogelijkheid voor meetbereik-overschrijding |
110% van bereik; met uitzondering van 100% voor capaciteit |
| Overbelastingsbeveiliging frequentie |
< 107 V Hz |
| Zekeringsbescherming voor mA-ingang |
0,44 A, 1000 V, IR 10 kA |
|
|
|
|
